Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
С камерой. Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Металлографический микроскоп MAGUS Metal 650 BD предназначен для работы в светлом и темном поле в отраженном свете, а также в поляризованном свете. Он применяется для инспектирования поверхностей интегральных схем, печатных плат, изделий прецизионного формования, фотошаблонов и других широких и протяженных объектов. Оснащен большим предметным столиком и механизмом тонкой фокусировки, шаг которой составляет всего 0,7 мкм. Микроскоп удобен при работе с габаритными объектами на высоких увеличениях. Он востребован в лабораториях по контролю качества, в научных и исследовательских центрах, на кафедрах высших учебных заведений.
MAGUS Lum V500L – это профессиональный микроскоп, предназначенный для работы по трем методам исследований: люминесценции, фазового контраста и светлого поля. Люминесцентный метод применяется при освещении отраженным светом, при этом используются фильтры возбуждения для работы с флюорохромами DAPI, FITC и TRITC. Методы светлого поля и фазового контраста доступны в проходящем свете. Микроскоп имеет инвертированную конструкцию, поэтому образцы исследования могут быть помещены в лабораторную посуду. Колбы, чашки Петри и другие емкости должны иметь толщину дна 1,2 мм и высоту не более 55 мм. Если отклонять штатив, то возможно установить посуду высотой до 165 мм. Микроскоп предназначен для исследований, диагностической работы, обучения.
MAGUS Lum V500 – это инвертированный люминесцентный микроскоп, используемый для работы в свете видимой люминесценции (отраженный свет), а также в светлом поле и по методу фазового контраста (проходящий свет). Микроскоп позволяет исследовать образцы, помещенные в лабораторную посуду – чашки Петри, колбы и проч. Высота посуды может достигать 55 мм, а при отклонении штатива – 165 мм. Оптика скорректирована на толщину дна посуды, равную 1,2 мм. Возможности микроскопа подходят для решения задач специалистов, работающих в медицинской, фармакологической, биохимической и других сферах науки.
Благодаря инвертированной конструкции на металлографическом микроскопе MAGUS Metal V700 BD можно исследовать объекты большого размера и массой до 2 кг. Исследуемая сторона должна быть плоской и обработанной для наблюдений, геометрия остальной части объекта не имеет значения. Микроскоп применяется на предприятиях металлургической и металлообрабатывающей промышленности, в производственных цехах и лабораториях контроля качества, в высших учебных заведениях. При исследованиях используются методы светлого поля, темного поля и поляризованного света.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.