Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. Микроскоп реализует три метода контрастирования в отраженном свете: светлое поле, простая поляризация и дифференциально-интерференционный контраст.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп для научных исследований и промышленного контроля. Предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. Установка опциональных компонентов позволит использовать методы темного поля и фазового контраста в проходящем свете, а также темного поля, дифференциально-интерференционного контраста и люминесценции в отраженном свете. В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты. В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм.
Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 30 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуют в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации и дифференциально-интерференционного контраста.