Микроскоп стереоскопический МС-2-ZOOM вар.2CR предназначен для наблюдения прямого (неперевернутого) изображения объемных объектов. С его помощью могут выполняться различные тонкие работы, требующие точной координации глаз и рук наблюдателя, например, биологические исследования на малых увеличениях, монтаж микроэлектронных компонентов, координация при изготовлении микропрепаратов и т.д. Стереомикроскоп МС-2-ZOOM вар.2CR подходит для использования в ювелирной промышленности. Для радиомонтажных работ чаще используется модель микроскопа с плоским основанием «А» или на штативах серии «TD». Модель МС-2-ZOOM вар. 2СR в комплекте с темнопольным устройством и ювелирным пинцетом может использоваться для гемологических исследований.
Стереомикроскоп предназначен для наблюдения объемных объектов и деталей их структуры с сохранением виртуальной объемности и ясности рельефа поверхности. Микроскоп оснащен встроенными осветителями проходящего и отраженного света для исследования прозрачных и непрозрачных объектов. Доступна опция для работы в поляризованном свете. Оптическая схема Грену обеспечивает высокую глубину резкости и хорошую объемность изображения за счет угла стереоскопичности 15 градусов. Микроскоп увеличивает изображение объекта без потери пространственной ориентации, под ним комфортно проводить микроманипуляции с объектами в рабочей области 110–188 мм, поэтому микроскоп используется для реставрации, пайки, сборки, контроля качества и других подобных операций.
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
С камерой. Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.