Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп предназначен для исследования объектов при освещении отраженным светом по методу люминесценции и при освещении проходящим светом по методам светлого поля и фазового контраста. На микроскопе исследуют осадки жидкостей, клеточные колонии, живые клетки, культуры тканей и другие объекты в питательной среде в лабораторной посуде высотой до 55 мм с толщиной дна 1,2 мм. В микроскопе используются специальные объективы для работы с такой посудой. Штатив осветителя отклоняется для работы с чашками Петри или колбами высотой до 165 мм. Микроскоп используется для иммунохимической диагностики и хромосомного анализа, выявления скрытых бактериальных и вирусных инфекций.
Микроскоп для научных исследований и промышленного контроля. Предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. Установка опциональных компонентов позволит использовать методы темного поля и фазового контраста в проходящем свете, а также темного поля, дифференциально-интерференционного контраста и люминесценции в отраженном свете. В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты. В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм.