Микроскоп для научных исследований и промышленного контроля. Предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. Установка опциональных компонентов позволит использовать методы темного поля и фазового контраста в проходящем свете, а также темного поля, дифференциально-интерференционного контраста и люминесценции в отраженном свете. В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты. В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм.
Микроскоп предназначен для исследования анизотропных геологических, биологических и полимерных объектов в поляризованном и обычном проходящем свете. Объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов. Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.
Микроскоп предназначен для исследования анизотропных геологических, биологических и полимерных объектов в поляризованном и обычном проходящем свете. Объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов. Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.
Микроскоп предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты. В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм. Объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов. Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.
Микроскоп предназначен для исследования объектов в поляризованном и обычном свете. В проходящем свете изучают геологические шлифы, тонкие анизотропные биологические и полимерные объекты. В отраженном свете исследуют непрозрачные аншлифы с отполированной одной стороной. Толщина аншлифа произвольная, обычно 5–10 мм. Микроскоп позволяет изучать непрозрачные объекты толщиной до 15 мм. Объективы микроскопа свободны от внутренних напряжений. В промежуточном тубусе установлены анализатор и линза Бертрана, есть слот для установки компенсаторов. Микроскоп используется в кристаллографии, петрографии, минералогии, криминалистике, медицине и других областях науки.