Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля и простой поляризации. Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности. Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации. Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.
MAGUS Pol 800 – поляризационный микроскоп для исследования анизотропных объектов. Наблюдения проводятся в проходящем свете двумя методами: поляризации и светлого поля. Микроскоп оснащен объективами, свободными от напряжений, поэтому не вносит паразитных отражений в изображение. Передаваемая оптикой картинка четкая, контрастная, с хорошей прорисовкой мелких деталей. Микроскоп подходит для работы с биологическими, полимерными и геологическими объектами и может использоваться для исследовательской и диагностической работы в разных сферах науки, а также для обучения студентов вузов.