Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов. Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 30 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью. На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуют в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации и дифференциально-интерференционного контраста.